CARACTERISATION EXPERIMENTALE DES MATERIOUX / JEAN, LEHI

Public ISBD Titre : CARACTERISATION EXPERIMENTALE DES MATERIOUX Type de document : texte imprimé Auteurs : JEAN, LEHI, Auteur Editeur : presses polutechniques et universitaires romandes Année de publication : 1998 Importance : 367 P. Format : 24 CM. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-88074-364-2 Langues : Français (fre) Index. décimale : 537 Electricité et électronique : Classer ici l'électromagnétisme Résumé : Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques. CARACTERISATION EXPERIMENTALE DES MATERIOUX [texte imprimé] / JEAN, LEHI, Auteur . - presses polutechniques et universitaires romandes, 1998 . - 367 P. ; 24 CM. ISBN : 978-2-88074-364-2 Langues : Français (fre) Index. décimale : 537 Electricité et électronique : Classer ici l'électromagnétisme Résumé : Cet ouvrage offre une introduction aux principales techniques de caractérisation structurale et microstructurale des matériaux. Tout en abordant les questions d'analyse chimique élémentaire, le livre met l'accent sur l'étude des microstructures aux échelles allant des distances interatomiques (structures cristallines) à quelques micromètres. Les auteurs décrivent l'origine des interactions rayonnement-matière et leurs principales manifestations, en privilégiant les phénomènes de diffraction dans la matière cristallisée et les méthodes d'imagerie des défauts. L'accent est mis sur les développements récents qu'ont connus les trois classes de technique abordées : nouvelles sources de rayonnement optimisées, microélectronique et techniques informatiques.

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537/036+01	537/036+01	Livre	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible
537/036+02	537/036+02	Livre	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible
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537/036+05	537/036+05	Livre	Bibliothèque principale	Documentaires	Disponible

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